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HORIBA SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

简要描述:

动态光散射粒径分布测定装置新型号,高灵敏度、高精度的测量;全方位表征单一体系纳米尺度粒子;完全解析纳米粒子的物质结构。
主要应用范围为:陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳黑、制药、病毒、涂料、化妆品、聚合物、食品、CMP、颜料、油墨

HORIBA SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪
 

 

 

动态光散射粒径分布测定装置新型号,高灵敏度、高精度的测量;全方位表征单一体系纳米尺度粒子;完全解析纳米粒子的物质结构。
主要应用范围为:陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳黑、制药、病毒、涂料、化妆品、聚合物、食品、CMP、颜料、油墨

 

粒子直径测定:
超宽动态光散射范围:0.3nm~8000nm
通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化
在单一纳米粒子专用光学系统中,采用更低杂散光90度检测光学系统
双光路系统(90度和173度)适用于更宽更浓度范围的样品测量,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等浓度样品的测定

 

产品特点:
可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量
样品浓度从PPM到百分之几十,SZ-100都能在原液状态下取样和测定
HORIBA自主研发的微量电泳样品池,可以测定仅100uL的Zeta电位
广泛应用于胶制粒子、机能性纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的测定
取样后,仅需按测定开始按钮即可,操作简单

 

粒子直径分布测定图例

溶菌酶(卵清蛋白) 醋酸缓冲剂pH4.3              盐酸硫胺素(维生素B1盐酸盐)
分子量:约14000                                              分子量:337 
浓度:0.1mg/ml                                               浓度:300mg/ml 
平均直径:4.0nm  
           平均直径:0.5nm

 

Zeta电位

 

NIST SRM1980 α-FeOOH   电泳迁移率:2.53±0.12umcm/Vs
<测定结果>电泳迁移率:2.53umcm/Vs,Zeta电位:32.9mV

LUDOX TM SiO2,0.01mol/L KCI
<测定结果>Zeta电位:-38.3mV

 

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